SEM観察用試料 CP・イオンミリング前の精密断面二次加工

SEM観察用試料 CP・イオンミリング前の精密断面二次加工

全固体電池の充放電後の劣化状況を評価する、SEM観察用サンプル作成の事例です。 充放電後のコインセルから5mm…